Kurzus Nanofázisú rendszerek az anyagtudományban Kód K185
Szak (vegyész, kémia kötelezően választható szakmai tárgy) Kredit 2
Felelős oktató Dr. Dékány Imre
egyetemi tanár
Számonkérés K5 vagy K3
Létszámkorlát nincs
Típus előadás Heti óraszám 2 Periódus őszi, tavaszi félév Javasolt félév 8 (lásd mintatanterv)
Előfeltétel K081 kredit teljesítése
Teljesítés feltétele -
Helyettesítő tárgy -
 
Tematika:

    A méretcsökkentés hatása az anyag tulajdonságaira: optikai, félvezető, mágneses és katalitikus tulajdonságok.
    Önrendeződő nanostruktúrák folyadékfázisban: micellák, membránok, folyadékkristályok, mikroemulziók. Amfifil molekulák önrendeződése szilárd felületen. Langmuir-Blodgett filmek tulajdonságai. Adszorpció és adszolubilizáció.
    Az adszorpciós réteg szerkezetének vizsgálati módszerei: szorpciós mikrokalorimetria, röntgendiffrakció, kisszögű röntgenszórás (SAXS) és neutronszórás (SANS), ellipszometria, IR-, NMR- és fluoreszcens spektroszkópia, atomi felbontású mikroszkópia (AFM).
    Réteges szerkezetű nanostrukturált anyagok: agyagásványok, kettős hidroxidok, grafitok és grafit oxidok szerkezete és tulajdonságai. Interkalációs komplexek.
    Szabályozott méretű nanorészecskék előállítása: kondenzációs módszerek gázfázisban; előállítás ultrahanggal és elektrodepozícióval; szintézis micellás rendszerekben; szintézis adszorpciós rétegekben; szitézis gélekben. Szol-gél technológia. Szabályos geometriájú domének mint nanofázisú reaktorok. Nanokompozitok. Ultravékony rétegek és monomolekulás filmek előállítása.
    Kolloidkémiai szintézismódszerek heterogén katalizátorok előállítására.
    Polimer és polielektrolit/szilárd nanorétegek szerkezete, szenzorok preparálása.
    Polimerek kölcsönhatása nanostrulturált anyagokkal. Polimer nanokompozitok. Új típusú műanyagok.
    Nanofázisú rendszerek szerkezetének vizsgálati módszerei: elektronmikroszkópia; atomi felbontású mikroszkópia (AFM); kisszögű (SAXS) és nagyszögű (WAXS) röntgenszórás; sztatikus- és dinamikus fényszórásmérés; fotoelektromos vizsgálatok; optikai- és mágneses tulajdonságok; erőhatások mérése nanorészecskék között (AFM); felületi plazmon spektroszkópia (SPS); Langmuir-Blodgett filmmérleg.