School Website
We've got School Spirit!
Photo 1Photo 2Learning is FunPhoto 3

At the Department the following industrial projects are running ("We don't have the money, so we have to think." Ernest Rutherford) :

At the Department the following instruments can be found: /

A Tanszéken az alábbi műszerek állnak rendelkezésre:


Setaram Labsys TGA-DTA 1600

A termograviméterrel az anyagok hőstabilitását mérjük különböző atmoszférákban egy hőmérsékleti tartományon belül, így az anyag bomlásának illetve átalakulásának folyamata jól nyomon követhető. Meg lehet különböztetni, hogy az anyag hány lépcsőben bomlik, az egyes lépcsők a teljes bomlás mekkora részét képezik, az egyes lépcsőknél endoterm vagy exoterm a folyamatról van-e szó.

Puskás Róbert


Quantachrome Nova 2000E

Szilárd minták fajlagos felületének, pórustérfogatának, átlagos pórusátmérojének, illetve pórusátméro eloszlásának meghatározása nitrogén-gázadszorpciós technikával.

Simon Tímea


Bruker Vertex 70 FT-IR spektrométer

Transzmissziós ZnSe és KBr ablakos (futheto és gázöblítheto) és diffúz reflexiós feltétekkel muködhet. Elérheto maximális felbontása 0,4 cm-1 (gyári adat). Alkalmas infravörös tartományban elnyelo por, folyadék és gázminták vizsgálatára, ho hatására történo átalakulás követésére, gázfejlodés követésére. Gyakorlati spektrális tartomány: MIR-NIR 6000-600 cm-1. Adatfeldolgozást segíto funkciókkal ellátott saját szoftverrel használható.

Havasi Viktor


Bruker Hyperion 2000 IR mikroszkóp

Kiegészítő elem, csak a Bruker Vertex 70 spektrométerrel együtt használható. ATR (csillapított reflexiós), spekuláris reflexiós és normál mikroszkóp (20x nagyítás) üzemmódokkal muködhet. Az ATR (Ge egykristály) mérofejjel géles, plasztikus és rugalmas szilárd minták vizsgálhatók sikeresen. Spekuláris reflexiós feltéttel sík felületu minták, fémes, vagy jól reflektáló szubsztrátra felvitt vékonyfilmek vizsgálhatók sikeresen. Gyári méréstartományuk 6000-600 cm-1. Normál mikroszkópként transzmissziós és reflexiós módban (látható tartomány) a vizsgált minták felülete 1M pixeles kamerával rögzítheto.

Havasi Viktor


Novocontrol Alpha-A FRA

Moduláris felépítésű Novocontrol Alpha-A FRA rendszer. Az anyagok frekvenciafüggő elektromos és dielektromos tulajdonságait térképezhetjük fel. DRS felhasználása:
  • Szerves, szervetlen amorf anyagok
  • Folyadékkristályok
  • Kristályos anyagok
  • Időfüggő rendszerek
  • kristályrács-dinamika,
  • klaszterdinamika,
  • elektron-, és iontranszport,
  • félvezetők mágneses szennyezéssel, nehéz fermion
  • félvezetők és átmeneti fémek tanulmányozása.

Haspel Henrik


MOTIC BA410 és Micropublisher RTV digitális kamera

A módszer nagyon elterjedt a modern anyagtudományban, mivel nagyon érzékeny és segítségével kis molekulák is kimutathatóak. Sok különféle fluoreszcens festék létezik, melyekkel egy fluoreszcens molekularészt (fluorokróm) kapcsolnak a vizsgálta anyaghoz. Ilyen fluorokrómok például a fluoreszcein vagy a rodamin.

Kozma Gábor


FEI Tecnai G2 20 X-TWIN HR-TEM

Transzmissziós elektronmikroszkópiával a minták szerkezetét lehet közvetlenül vizsgálni nagy fölbontás mellett (~0.26 nm pont- és 0.14 nm vonalfölbontás). Elektrondiffrakciós képekkel a minta kristályszerkezetéről lehet információt kinyerni a röntgendiffrakcióhoz hasonlóan, csak sokkal kisebb mintatérfogatból, így jól kiegészíti azt.

Puskás Róbert, Pusztai Péter


FEI Tecnai G2 20 X-TWIN HR-TEM

The Hitachi S-4700 is a field emission scanning electron microscope (FE-SEM). More powerful than a standard SEM, the S-4700, under optimal conditions, can magnify images upwards of 500,000 times and resolve features to 1.5 nanometers. In addition, an EDS, a cathodoluminescence detector, backscatter electron detector and energy dispersive x-ray spectrographic detector accompany the microscope.
Pusztai Péter, Varga Tamás


FEI Tecnai G2 20 X-TWIN HR-TEM

The Hitachi TM3000 Benchtop Scanning Electron Microscope (SEM) is easy to use compared to traditional SEMs and allows for observation of uncoated specimens in low vacuum mode. It can handle relatively large specimens and the high performance vacuum system provides a fast pump-down (about 2 min) and venting (about 1 min). Our laboratory is also equipped with a critical point drier and sputter coater for specimen preparation. Specifications
  • Magnification: 15-30 000X
  • Observation conditions: 5 /15kV
  • Max sample size: 70mm diam., 50mm height
  • Semiconductor BSE Detector
  • High and low vacuum mode

Pusztai Péter, Varga Tamás


FLIR A655sc infravörös kamera

A FLIR A655scp egy professzionális nagy felbontású (640x480 pixel/ 50 Hz képsebesség), 7.5-14 µm-es spektrális tartományban működő, hűtésnélküli mikrobolométer detektorral rendelkező, könnyen vezérelhető telepíthető infravörös hőkamera. Mérési funkciók: 40-150 °C/100-650 °C hőmérséklet tartomány; ±2 °C (±3.6 °F) pontosság. A kamerát pórusos anyagoknál megfigyelhető ülő cseppek felületi és pórusokból való párolgás követésére, illetve hőmérsékletváltozás regisztrálására használjuk.

Bogya Erzsébet


Vision Research Miro 110LC gyorskamera

A Vision Research Miro 110LC kamerája teljes felbontáson 16.000 képkockát rögzít az 1 megapixeles (1280 x 800 képpontos) CMOS szenzorral szerelt gép, melynek adatátviteli sebessége 16 gigapixel másodpercenként. Minimális felbontáson (64x8 pixel) 400.000 fps a maximális sebesség. Legrövidebb expozíciós idő: 2 mikro szekundum.

Bogya Erzsébet


FRITSCH Pulverisette-6

A műszer alkalmas nagyenergiájú őrlések elvégzésére, mechanokémiai folyamatok kivitelezésére, valamint a hozzá tartozó nyomás és hőmérséklet detektor segítségével ezen folyamatok követésére.

Kozma Gábor


FRITSCH Pulverisette-6

The model 850e Multi-Range Fuel Cell Test System is a complete test station for operation and measurement of PEM/DMFC fuel cells. The 850e is ideal for single-cell and short-stack fuel cell research and university programs. The 850e combines a computer-controlled instrument with fuel handling hardware in an integrated bench-top unit. The 850e uses the proven 890e as the basis for the electronic load design. The powerful FuelCell® software package is included for controlling station operation.
Haspel Henrik


Agilent GC6820 - Gázkromatográf

Ebben a GC-ben kapillárkolonnák használhatók. Gázelegyek komponenseinek indirekt módon (retenciós idő alapján) történő meghatározására alkalmazható mérőmódszer. Rendelkezik lángionizációs (FID) és hővezetési detektorral (TCD).

Puskás Róbert


Shimadzu GCMS-QP2010 SE

GC-MS rendszerekkel gáz- és folyadékelegyek pontos összetételét lehet meghatározni kvalitatívan és kvantitatívan egyaránt. Az összekapcsolt rendszer jobb a különálló GC és MS muszerekkel szemben, ugyanis mindkét módszer előnyét (elegy szétválasztása és pontos komponens-meghatározás) egyesíti, ám azok főbb hátrányaival nem rendelkezik (csak közvetett komponens-meghatározás és túl összetett tömegspektrum).

Puskás Róbert


Pye Unicam Series 304 (inverz)Gázkromatográf

Ebben a GC-ben töltetes kolonnák használhatók, ami lehetővé teszi inverz gázkromatográfiás mérések elvégzésére. Rendelkezik lángionizációs (FID), elektronbefogásos (ECD) és nitrogén detektorral.

Puskás Róbert


HEL Technology reaktorrendszer

A műszer alkalmas nagynyomáson és magas hőmérsékleten végzett rekaciók kivitelezésére és vizsgálatára az alábbi szondák segítségével:
  • Turbiditásmérő
  • Kaloriméter
  • Raman-fej
  • Hővezetés mérő
  • Nyomás és hőmérséklet mérő

A rendszer áll egyszer egy üvegreaktorból (atm-vákuum), valamint egy nagynyomású reaktorból amiben 350 bar és 500 °C-os környezet is előállítható.
Szabó Mária



Hielscher UIP-1000 Ultrahangos homogenizátor
  • Szonokémiai folyamatok lejátszása
  • Magasfokú diszpergálási lehetőség
  • Stabil oldatok és szuszpenziók létrehozása
  • 250-1000 W-os teljesítmény

Nagy László


Hitachi F-4500 fluoriméter

200-700 nm-es tartományban üzemel, 150W-os Xeneon fényforrással és 0.1 nm-es felbontással, 1-20 nm-es réssel és 15-30000 nm/min-es hullámhossz szkennelési beállítással. Fluoreszcens, folyadék minták mérhetőek a műszerrel, a következő funkciókban: mennyiségi analízis, gerjesztési és emissziós spektrum felvétele, 3D spektrum felvétel, reakciókinetika mérése, automatikus validálás (önteszt funkció).

Győri Zoltán


Hitachi U-2001 UV-Vis spektrofotométer

A műszer alkalmas molekulaszerkezet meghatározására, koncetráció követésre, analitikai vizsgálatokhoz és fotokatalitikus tesztek követésére

Madarász Dániel


NT-MDT NANOEDUCATOR Pásztázószondás atomerő mikroszkóp

Alkalmas 500 nm átlagos átmérővel rendelkező és annál nagyobb minták felületének vizsgálatára. Képes litográf üzemmódban is működni. Legfőbb tulajdonsága a nagyon egyszerű kezelőfelület, ami miatt elsőrendűen oktatási célú műszer.

Kozma Gábor


NT-MDT SOLVER PRO pásztázószondás atomerő mikroszkóp

Alkalmas szerves és szervetlen anyagok vizsgálatára, képes a nanométeres tartományú felbontásra. Előnye, hogy az egyszerű mintaelőkészítés és méréstechnika révén gyors vizsgálatokra alkalmas.

Kozma Gábor


OceanOptics USB4000 spektrofotométer

200-900 nm-es méréstartományban, ~0.1-10.0 nm-es FWHM felolbontással, 3.8 ms - 10 s-os integrációs idővel használható. A folyadék minták esetén abszorbancia, transzmittancia mérés illetve nem áttetsző, szilárd minták esetén reflexiós mérések kivitelezhetőek a műszeren. Alkalmas továbbá szabványos színmérésre és besugárzás ("irradiance" ) mérési funkcióval is rendelkezik.

Győri Zoltán


TA Instruments DMA Q800

A Dinamikus Mechanikai Analízis a vizsgált minta oszcilláló terhelés melletti viszkoelasztikus tulajdonságainak meghatározását végzi (a hőmérséklet, erő, frekvencia, idő függvényében). A 18 N maximális erőkifejtésre képes műszer kiválóan alkalmas különböző polimer minták, vékony filmek termikus mechanikai vizsgálatára.

Papp Ibolya Zita



Rigaku Miniflex II

A MiniFlex II rendszer egy asztali porröntgen diffraktométer, mely kompakt méretét egy fejlett alapteljesítménnyel ötvözi. Felhasználható különböző polikristályos anyagok, mint porminták és fém lemezek kvalitatív és kvantitatív analízisére, és kiindulási anyagok és termékek minőségi meghatározására.
  • Kristályossági fok meghatározás
  • Részecskeméret meghatározására
  • Kvalitatív analízisre
  • Réteges szerkezetű anyagok rétegtávolságának meghatározására

Simon Tímea